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3321型 空气动力学粒径谱仪

空气动力学粒径谱仪:APS3321通过精密的飞行时间（TOF）技术可以实时测量粒子的空气动力学粒径，其粒径测量范围达到0.5～20μm。由于基于飞行时间的空气动力学粒径计数仅仅与粒子形状相关，从而避免了折射系数和米散射的干扰，因此仪器对粒径的测量性能优于同类的光学散射仪器。

所属分类：

美国TSI

可吸入颗粒物检测仪

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  • 产品描述
  • 技术参数
    • 商品名称: 3321型 空气动力学粒径谱仪

    空气动力学粒径谱仪:APS3321通过精密的飞行时间（TOF）技术可以实时测量粒子的空气动力学粒径，其粒径测量范围达到0.5～20μm。由于基于飞行时间的空气动力学粒径计数仅仅与粒子形状相关，从而避免了折射系数和米散射的干扰，因此仪器对粒径的测量性能优于同类的光学散射仪器。

    产品简介

     

          3321型 空气动力学粒径谱仪（APS3321）是高性能、多用途的新一代粒子测量仪器，其所具有的独特设计可以同时测量如下2个属性：

     

          空气动力学粒径:APS3321通过精密的飞行时间（TOF）技术可以实时测量粒子的空气动力学粒径，其粒径测量范围达到0.5～20μm。由于基于飞行时间的空气动力学粒径计数仅仅与粒子形状相关，从而避免了折射系数和米散射的干扰，因此仪器对粒径的测量性能优于同类的光学散射仪器。此外，飞行时间测量粒径所具有的单调对应曲线确保了在整个粒径测量范围内的高分辩率。

     

          光学散射强度：通过光学散射测量技术，APS3321的测量粒径可以达到0.37～20μm。虽然光学散射强度并不总是颗粒物粒径的可靠表征参数，但它仍然是人们感兴趣的一项参数。APS3321可以分别提供同一粒子的空气动力学粒径和光学散射强度这两项参数的数据，并单独存储。

     

    关键词:
    • 粒径谱仪

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